Gamme In-Sight 3800
Système de vision à usage général, alimenté par l’IA, conçu pour gérer des inspections à haute vitesse et haute résolution dans une large gamme d’applications de fabrication.
Maintien de l’intégrité de la marque de sonde des semi-conducteurs
Dans la fabrication de semi-conducteurs, avant l’envoi d’un wafer à la préparation des puces, chaque circuit (CI) intégré est testé pour la continuité électrique et les défauts fonctionnels à l’aide d’une carte de sonde équipée de nombreuses sondes électriques microscopiques. Ces sondes entrent en contact avec le wafer, laissant de petites marques sur la puce pour indiquer un contact réussi. Bien que la présence d’une marque de sonde confirme le contact, les fabricants doivent effectuer une analyse plus approfondie pour s’assurer que la pression et l’alignement sont corrects.
Les repères des sondes doivent être clairement visibles, centrés et cohérents pour vérifier la précision des tests. Les sondes sont délicates et coûteuses ; une pression excessive peut entraîner des dommages et dégrader leurs performances au fil du temps, faisant de l’inspection des marques des sondes une étape critique dans le test des wafers.
Pour les fabricants, il est essentiel de maintenir des marques de sonde précises, non seulement pour garantir l’intégrité des tests, mais aussi pour prolonger la durée de vie des outils de sonde coûteux. Optimisées par l’IA Cognex, nos solutions avancées permettent d’analyser les marques de sonde avec précision, garantissant que seules les marques valides passent l’inspection. Cela protège la qualité du produit et améliore l’efficacité opérationnelle.
Exemples de bonnes et de mauvaises marques de sonde.
Simplifier la complexité des tests de wafers
Les systèmes d’inspection traditionnels sont mis à l’épreuve par la complexité des tests de marque de sonde. La petite taille, le contraste subtil, la forme variable et le placement des marques de sonde les rendent difficiles à détecter avec des systèmes de vision fondés sur des règles. Les marques affectées par un mauvais alignement, une pression excessive, l’usure de l’outil ou des doubles coups peuvent entraîner des erreurs de classification, des résultats de test erronés et des dommages potentiels à l’équipement.
Dans le même temps, les CI doivent être inspectés pour détecter les défauts de moulage esthétiques – défauts de surface tels que les rayures, les vides, les flashs ou d’autres défauts de surface qui peuvent compromettre la fiabilité à long terme des copeaux. Ces défauts sont souvent à faible contraste ou légers, ce qui les rend faciles à rater pendant l’inspection humaine ou avec des outils conventionnels.
Les outils de vision haute résolution et le logiciel de classification de Cognex sont spécialement conçus pour l’inspection à grande vitesse de pièces de petite taille, offrant des résultats précis avec un fort grossissement.
Améliorer la précision d’inspection des marques de sonde et le rendement de wafers grâce à des systèmes de vision industrielle alimentés par l’IA
Les systèmes de vision In-Sight Cognex fondés sur l’IA simplifient et accélèrent l’inspection des marques de la sonde en permettant aux fabricants de distinguer efficacement les marques acceptables des défauts réels, tout en identifiant les causes profondes telles que les incohérences de pression et les désalignements.
Formé sur un ensemble varié d’images, le logiciel Cognex exploite le Deep learning pour classifier les marques de sonde avec une précision exceptionnelle. Il permet de différencier de manière fiable les anomalies mineures dans les limites de tolérance et les problèmes critiques nécessitant une attention particulière, garantissant des résultats cohérents et fiables.
Grâce à l’imagerie haute résolution avancée, les systèmes de vision Cognex détectent même les défauts les plus difficiles, notamment les marques de sonde microscopiques à faible contraste et les défauts esthétiques subtils sur les surfaces moulées. La classification en temps réel permet aux équipes de production de trouver rapidement les zones problématiques et d’effectuer des ajustements immédiats, réduisant ainsi les faux rejets et les opérations de reprise, améliorant le rendement des puces et la fiabilité globale du dispositif.
Soutenu par un réseau mondial d’experts Cognex et des ressources en libre-service à la demande, vous bénéficiez des outils et de l’assistance nécessaires pour garantir des tests de semi-conducteurs précis et fiables, garantissant que seules des puces de haute qualité progressent dans le processus de fabrication.