Vendite:
Le superfici riflettenti dei wafer, i caratteri incisi in miniatura e le rigide condizioni delle camere bianche complicano la tracciabilità dei wafer nella produzione dei semiconduttori. Le soluzioni Cognex utilizzano OCR avanzato, decodifica 2D e illuminazione adattiva per garantire alte velocità di lettura e un tracciamento affidabile dell'ID, assicurando la piena tracciabilità in tutto il processo di fabbricazione e imballaggio complesso e altamente sensibile.
L’industria globale dei semiconduttori si basa su velocità, precisione e una tolleranza agli errori pari a zero. I wafer, sottili dischi di silicio da cui nascono i circuiti integrati, saranno anche piccoli, ma possono offrire prestazioni impressionanti. Per questo serve un tracciamento preciso, dalla fase iniziale di fabbricazione fino al momento in cui i wafer vengono tagliati. Per far fronte alla crescente richiesta di un utilizzo più intenso degli impianti, di controlli più rigorosi e di una resa produttiva più elevata, i produttori hanno bisogno di sistemi di tracciabilità dei wafer affidabili, così da proteggere margini di profitto e qualità del prodotto.
Per restare al passo, i sistemi di visione avanzata ottimizzano il processo e assicurano una lettura dei codici rapida e precisa, così da garantire una tracciabilità accurata dei wafer.
I wafer vengono marcati con codici identificativi incisi al laser, caratteri alfanumerici o simboli Data Matrix, su una piccola area del disco di silicio, così da poterli riconoscere durante tutte le fasi di lavorazione, fino al momento del taglio. Ma leggere in modo affidabile codici così piccoli è una sfida tutt’altro che semplice.
Marcature degradate, superfici riflettenti, caratteri incisi minuscoli e i vincoli delle camere bianche complicano la cattura di immagini ID dei wafer uniformi con i sistemi tradizionali, con ripercussioni sull’allineamento delle macchine, sul controllo qualità e sull’efficienza complessiva della produzione.
Le soluzioni avanzate di scansione dei codici offrono la precisione e l’affidabilità di cui i produttori hanno bisogno, decodificando in modo costante gli ID dei wafer per garantire lavorazioni accurate, interventi rapidi in caso di problemi e una tracciabilità completa lungo tutto il processo.
Leggi gli ID rovinati o graffiati.
Ottimizza il contrasto per le superfici riflettenti.
Progettati per ambienti di produzione di semiconduttori caratterizzati da elevata velocità e requisiti di precisione stringenti, i lettori Cognex In-Sight permettono una tracciabilità dei wafer al 100%, garantendo una decodifica rapida e affidabile di pressoché qualsiasi identificativo, inclusi codici alfanumerici e Data Matrix 2D, prima dell’operazione di dicing.
Questi sistemi compatti, idonei all’impiego in camera bianca, integrano capacità OCR, algoritmi evoluti, ottiche ad alte prestazioni e soluzioni di illuminazione flessibili, con l’obiettivo di semplificare e consolidare i processi di identificazione dei wafer:
Inoltre, Cognex offre un'ampia gamma di soluzioni di supporto, in loco, online o on demand, supportate da una rete globale di specialisti della visione.