Caratteristiche principali
Tenere traccia di ogni wafer
Nella produzione di semiconduttori, la perdita di un singolo wafer può comportare conseguenze economiche significative. Per evitare questo, le aziende manifatturiere hanno bisogno di un sistema di tracciabilità che funzioni sempre e senza problemi.
I lettori di wafer della serie In-Sight 1740 identificano in modo automatico ogni wafer durante il processo produttivo, garantendo una tracciabilità al 100%. In questo modo si evitano incertezze, controlli manuali e errori onerosi causati da identificazioni errate.
I lettori, compatti e completamente integrati, si montano con facilità su impianti nuovi o già in uso, offrendo la stabilità e l’affidabilità necessarie per un funzionamento continuo della linea produttiva.
Le funzionalità avanzate garantiscono una tracciabilità completa
Dodici modalità di illuminazione integrate e controllate via software gestiscono qualsiasi tipo di marcatura ID — da segni appena visibili e rivestimenti ultra-sottili fino a substrati in zaffiro. Man mano che emergono nuovi processi e rivestimenti per wafer, In-Sight 1740 può adattarsi. L’illuminazione dedicata alimentata dalla porta luce ausiliaria garantisce un’operatività pronta per il futuro.
Gli algoritmi di lettura dei codici di Cognex si basano sull'esperienza acquisita da oltre 30.000 impianti con sistemi di identificazione di wafer semiconduttori in tutto il mondo. Questi algoritmi sono affidabili, solidi e in grado di gestire marcature e codici ID degradati anche su bordi sferici, CMP, pattern scribe-on-die e altre situazioni difficili.
Il processo di lavorazione dei wafer può compromettere la qualità dei codici ID, rendendone ardua la lettura sia all’occhio umano sia alla visione artificiale. I lettori In-Sight 1740 risolvono il problema grazie a filtri di affinamento automatico dell’immagine. Anche in casi estremi, questi filtri possono trasformare un errore di lettura in un successo, aumentando l'affidabilità ed eliminando la necessità dell’intervento umano.
La Serie In-Sight 1740 legge il 40% più velocemente rispetto ai precedenti lettori di ID per wafer semiconduttori. Con questa capacità di elaborazione superiore, il sistema gestisce analisi d’immagine ad alta intensità computazionale garantendo risultati di grande affidabilità, senza incidere sui tempi di lettura.
Massima semplicità e capacità di autoapprendimento
Ottimizzazione automatica
La serie In-Sight 1740 semplifica la configurazione grazie alla funzione di messa a punto avanzata che ottimizza automaticamente le impostazioni per leggere anche i codici e le marcature su wafer più complessi – non è richiesta alcuna formazione avanzata. Con la possibilità di memorizzare fino a 50 lavori in un unico file, gestisce lotti di wafer misti con diverse caratteristiche di identificazione.
Tecnologia di autoapprendimento
I segni sui wafer possono variare in modo imprevedibile da wafer a wafer o tra i lotti. La serie In-Sight 1740 risolve questo problema con funzionalità di autoapprendimento, regolando dinamicamente la luce e i filtri d'immagine dopo un errore di lettura. Le ottimizzazioni riuscite vengono salvate, consentendo al sistema di adattarsi nel tempo ed eliminando la necessità di regolazioni manuali.
Registrazione completa della cronologia delle letture
Per una migliore tracciabilità, la serie In-Sight 1740 può salvare i risultati di lettura dettagliati in un file di registro di rete. Ciò include la stringa letta e il punteggio di lettura, offrendo una cronologia completa per ogni lettore presente nell’impianto.
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Specifiche
Lettore wafer In-Sight 1740 Specifiche
| In-Sight 1740 | Value |
|---|---|
| Risoluzione dell'immagine (MP) | 0.36 |
| Velocità di acquisizione (fps) | 41 |
| Tipo di luce | LED rossi (615-640 nm) |
| In-Sight 1741 | Value |
|---|---|
| Risoluzione dell'immagine (MP) | 0.79 |
| Velocità di acquisizione (fps) | 17 |
| Tipo di luce | LED rossi (622 nm) |
| In-Sight 1742 | Value |
|---|---|
| Risoluzione dell'immagine (MP) | 0.79 |
| Velocità di acquisizione (fps) | 17 |
| Tipo di luce | LED IR (870-890 nm) |
| In-Sight 1740 | Value |
|---|---|
| Input discreti | Nessuno.(Otto ingressi disponibili quando si utilizza il modulo I/CIO-1400 O CIO-1400 opzionale.) |
| Output discreti | Nessuno.(Sei ingressi disponibili quando si utilizza il modulo I/CIO-1400 O CIO-1400 opzionale.) |
| Connettori | Ethernet RJ45, PIO RJ45 "chiamato" |
| Protocolli di comunicazione | Seriale, NativeMode, LKx5, Electroglas, TELandTSK. |
| In-Sight 1741 | Value |
|---|---|
| Input discreti | Nessuno.(Otto ingressi disponibili quando si utilizza il modulo I/CIO-1400 O CIO-1400 opzionale.) |
| Output discreti | Nessuno.(Sei ingressi disponibili quando si utilizza il modulo I/CIO-1400 O CIO-1400 opzionale.) |
| Connettori | Ethernet RJ45, PIO RJ45 "chiamato" |
| Protocolli di comunicazione | Seriale, NativeMode, LKx5, Electroglas, TEL e TSK. |
| In-Sight 1742 | Value |
|---|---|
| Input discreti | Nessuno.(Otto ingressi disponibili quando si utilizza il modulo I/CIO-1400 O CIO-1400 opzionale.) |
| Output discreti | Nessuno.(Sei ingressi disponibili quando si utilizza il modulo I/CIO-1400 O CIO-1400 opzionale.) |
| Connettori | Ethernet RJ45, PIO RJ45 "chiamato" |
| Protocolli di comunicazione | Seriale, NativeMode, LKx5, Electroglas, TEL e TSK. |
| In-Sight 1740 | Value |
|---|---|
| Consumo massimo di potenza | 4.8 |
| In-Sight 1741 | Value |
|---|---|
| Consumo massimo di potenza | 4.8 |
| In-Sight 1742 | Value |
|---|---|
| Consumo massimo di potenza | 4.8 |
| In-Sight 1740 | Value |
|---|---|
| Temperatura di esercizio massima | 113 |
| Temperatura di esercizio minima | 0 |
| Materiali | # |
| In-Sight 1741 | Value |
|---|---|
| Temperatura di esercizio massima | 113 |
| Temperatura di esercizio minima | 0 |
| Materiali | # |
| In-Sight 1742 | Value |
|---|---|
| Temperatura di esercizio massima | 113 |
| Temperatura di esercizio minima | 0 |
| Materiali | # |
| In-Sight 1740 | Value |
|---|---|
| Certificazioni | CE, FCC, KCC, TÜV SÜD NRTL, RoHS, IEC60825-1/A2:2001, EN60825-1/A1:2002, CAN/CSA-E60825-1:2003, SEMI S2-0709 |
| In-Sight 1741 | Value |
|---|---|
| Certificazioni | CE,FCC,KCC,TÜVSÜDNRTL,RoHS,IEC60825-1/A2:2001,EN60825-1/A1:2002,CAN/CSA-E60825-1:2003,SEMI S2-0709 |
| In-Sight 1742 | Value |
|---|---|
| Certificazioni | CE, FCC, KCC, TÜV SÜD NRTL, RoHS, IEC60825-1/A2:2001, EN60825-1/A1:2002, CAN/CSA-E60825-1:2003, SEMI S2-0709 |
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