Avec un coût des wafers allant de 5 000 $ à plus de 100 000 $, une orientation précise pendant la fabrication est essentielle. Même le plus petit désalignement peut entraîner des défauts irréparables, obligeant les fabricants à mettre au rebut des wafers de grande valeur.
La détection traditionnelle des encoches repose sur des capteurs optiques laser à faisceau traversant qui nécessitent des émetteurs et des récepteurs encombrants au-dessus et en dessous du wafer. Ces configurations consomment un espace mécanique précieux et retardent le temps de traitement car elles font tourner lentement les wafers pour trouver l’encoche.
La détection devient encore plus difficile avec des revêtements spéciaux comme le carbure de silicium (SiC) transparent. De plus, à mesure que les wafers deviennent plus fins et avancés, des défis tels que de minuscules encoches, des orientations similaires et des types de bords variables compromettent encore davantage la précision.
Les systèmes d’alignement peu performants nécessitent également une intervention manuelle et une maintenance fréquentes, ce qui ralentit le flux de travail, diminue le rendement en réduisant le nombre de puces fonctionnelles par wafer et augmente les coûts.
Les systèmes de vision industrielle Cognex offrent la précision et la vitesse dont les fabricants de semi-conducteurs ont besoin pour relever ces défis en toute confiance.