Ventes :
Les surfaces réfléchissantes des wafers ou tranches de silicium, les minuscules caractères gravés et les conditions strictes des salles blanches compliquent la traçabilité des plaquettes dans la production de semi-conducteurs. Les solutions Cognex utilisent des technologies avancées de reconnaissance optique de caractères (OCR), de décodage 2D et d'éclairage adaptatif pour offrir des taux de lecture élevés et un suivi d'identification fiable, garantissant une traçabilité complète tout au long des processus de fabrication et d'emballage complexes et très sensibles.
L’industrie mondiale des semi-conducteurs repose sur la vitesse, la précision et la tolérance zéro en matière d’erreurs. Les wafers ou tranches de silicium (fines tranches rondes de silicium utilisées pour fabriquer des circuits intégrés) sont petites, mais elles offrent des performances exceptionnelles. Elles nécessitent un suivi précis de la fabrication initiale à leur découpage. Pour répondre à la demande croissante en matière d’utilisation accrue des outils, de contrôle rigoureux et d’augmentation du rendement de production, les fabricants ont besoin de systèmes fiables de traçabilité des wafers ou tranches de silicium afin de maintenir leur rentabilité et la qualité de leurs produits.
Pour suivre le rythme, la vision industrielle avancée optimise le processus afin de garantir une lecture rapide et précise des codes, permettant une traçabilité précise des plaquettes.
Les lames sont marquées de codes d’identification gravés au laser, qu’il s’agisse de caractères alphanumériques ou de symboles Data Matrix, sur une petite zone du disque en silicium, ce qui permet de les identifier à travers plusieurs étapes d’exécution jusqu’à leur découpage. Mais la lecture fiable de ces minuscules codes pose des défis importants.
Les marques dégradées, les surfaces réfléchissantes, les petits caractères gravés et les contraintes liées aux salles blanches rendent difficile l’imagerie cohérente des ID de wafers pour les systèmes traditionnels, ce qui perturbe l’alignement des outils, le contrôle qualité et l’efficacité globale de la production.
La numérisation de codes-barres avancée fournit la précision et la fiabilité dont les fabricants ont besoin : décodage constant des ID de wafers pour assurer un traitement précis, un dépannage rapide et une traçabilité de bout en bout.
Lire des identifiants endommagés ou rayés.
Optimiser le contraste pour les surfaces réfléchissantes.
Conçus pour les environnements à semi-conducteurs à grande vitesse et pilotés avec précision, les lecteurs Cognex In-Sight permettent une traçabilité à 100 % des plaquettes, offrant un décodage rapide et fiable de pratiquement tous les marquages d’identification, y compris les codes alphanumériques et 2D Data Matrix, avant le découpage.
Ces systèmes compacts compatibles avec les salles blanches combinent des capacités OCR, des algorithmes avancés, une optique robuste et un éclairage flexible pour simplifier et renforcer l’ID du wafer :
De plus, Cognex propose des options de support flexibles, sur site, en ligne ou à la demande, soutenues par un réseau mondial d’experts en vision.