Leistungsmerkmale
Hochdetaillierte Prüfung mit reduzierten Ausschussraten
Viele „Shape from Shading“-Techniken sind auf Ringbeleuchtung oder mehrere Balkenleuchten angewiesen. Der Trevista CI Dome verbessert diese Techniken mit einer Beleuchtung aus allen Blickwinkeln für eine effektivere Fehlererkennung. Der patentierte Algorithmus verwendet Bilder aus mehreren Blickwinkeln, um detaillierte kombinierte Bilder zu erstellen und so eine höhere Qualität, Wiederholbarkeit und robuste Prüfungen zu gewährleisten.
Der Trevista CI Dome steigert die Effizienz und erfasst topografische Bilder doppelt so schnell wie andere Lösungen. Mit der diffusen Dombeleuchtung und dem Shape-from-Shading-Tool von VisionPro bietet er eine schnelle, hochwertige Bildgebung von konturierten Teilen, wodurch die Prüfzeit pro Teil unabhängig von Ausrichtung oder Position reduziert wird.
Die Dome-Beleuchtung erfasst Oberflächenneigungen mit Reflexionen in alle Richtungen und verbessert die Fehlererkennung bei komplexen Formen. KI-Bildverarbeitungstools klassifizieren den Schweregrad von Defekten und reduzieren Overkill, Ausschussraten und Kosten.
Nahtlose Integration mit der Cognex VisionPro Software
Dank der Leistungsfähigkeit von Cognex VisionPro können mit Trevista CI Dome generierte Bilder problemlos evaluiert werden.
- Mit dem integrierten Trevista Acquisition Wizard können Kamera- und Lichtsteuerungseinstellungen in VisionPro schnell übernommen werden.
- Generieren von topografischen Bildern hoher Qualität mit dem integrierten Trevista Shape-from-Shading-Tool für rechnergestützte Bilderstellung.
- Bewerten des Schweregrads von Fehlern mit Hilfe von integrierten KI-gestützten Tools zur Fehlererkennung und -klassifizierung anhand der kombinierten Trevista-Bilder.
- Entwicklung von Prüfanwendungen mit der Cognex Bildverarbeitungssoftware.
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Anwendungen
Spezialisierte Lösungen für reflektierende und matte Oberflächen
Die Trevista CI Dome erkennt feine Mängel auf reflektierenden und matten Oberflächen mithilfe der leistungsstarken Shape-from-Shading-Technologie. Ideal für enge Toleranzbereiche, wie z. B. bei Batterien für Elektrofahrzeuge (EV) und Leiterplattenmontagen.
Prüfen von Batterien für Elektrofahrzeuge (EV)
Identifizierung von Oberflächendefekten an Batterien und Klassifizierung von Defekten als kritisch oder kosmetisch.
Leiterplattenprüfung
Überprüfung der korrekten Ausrichtung der auf Leiterplatten (PCBs) montierten IC-Chips.
Technische Daten
Trevista CI Dome Technische Daten
Kundenfeedback
„Der Trevista CI Dome bietet uns eine bessere Bildgebung, eine höhere Verarbeitungsgeschwindigkeit und arbeitet nahtlos mit anderen Tools zusammen, um eine systematische Prüfung durchzuführen.“
Feng Yingjun
Head of Visual Business Department
Support
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