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L42 技术规格表 | 简体中文
L42 系列位移传感器提供高分辨率、低失真、均匀的光分布，可显著提高 3D 测量的准确性。先进的激光投影技术可生成高密度 3D 点云数据，从而实现广泛的检测和测量任务。L42 系列具有 4096 个点/剖面的超高分辨率，可精确测量关键参数，如高度差、平整度和尺寸偏差。
高精度
使用高分辨率 3D 数据检测微缺陷并准确测量关键尺寸。
工业可靠性
在反射表面和恶劣的制造环境中保持最佳的检测性能。
生产速度
每秒捕获高达 40，000 个配置文件，以跟上高速生产线的步伐。
简化部署
使用轻量级模块化设计在生产线上任何地方部署 3D检测，便于集成。