MicroLED 面板检验

检测显示面板上的各种 microLED 缺陷

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MicroLED 从晶片直接粘到面板上，并检验是否有缺陷，例如刮擦、污渍或断裂晶粒。microLED 晶粒由于尺寸极小（<100 微米）且厚度极小，容易出现毁灭性的生产缺陷，而此类缺陷在大型 LED 或Mini LED 是可接受的。用于电视、智能手机或 VR 装备的 MicroLED 显示屏需要 100% 检验和超低的故障 LED，因为太多缺陷可能会影响显示亮度和色彩均匀度。电视照明面板可能有数百万颗 microLED，所以检验必须快速准确，以便保持快速生产。缺陷可能多种多样，因此传统的基于规则的机器视觉难以胜任此项检测。

康耐视的基于人工智能的技术有助于 microLED 制造商识别显示面板上的缺陷晶粒。系统使用一系列代表“合格”和“不合格”(NG) 结果的图像进行训练，使软件能够忽略在公差范围内的差异，并只标记出重大缺陷。此分析工具在面板上的各个区域工作，找到 microLED 上的细微缺陷。利用此分类工具，生产经理可对各种缺陷进行分类，并利用数据来优化上游流程和提升总体生产效率。在流程的早期识别和修复缺陷是极具成本效益的，并且有助于制造商向客户交付优质的面板。