利用自动光学检测 (AOI) 来进行 LED 晶粒外观检验

Identify various defects during the LED encapsulation process

相关产品

VisionPro Deep Learning

面向深度学习工业图像分析的图形化编程环境

In-Sight D900

采用 In-Sight ViDi 技术的深度学习式视觉软件

LED 晶粒在晶片上创建后，必须检验是否有表明缺陷，例如裂缝、碎片和黑点，因为这些缺陷可能会对 LED 的质量和性能产生负面影响。因为这些类型的缺陷各有差异，并且可能出现在各种位置，所以使用基于规则的机器视觉无法进行高速检验。此外，由于不影响 LED 质量的正常畸变也会出现，所以系统务必忽略这些微小的缺陷。鉴于每天处理的 LED 晶粒的大小和数量，人工检查既不高效也不实用。

康耐视的基于人工智能的视觉系统和软件有助于制造商对真正的 LED 晶粒缺陷进行识别和分类。这种先进的视觉解决方案使用一系列代表“合格”和“不合格”(NG) 结果的图像进行训练，使软件能够只标记出重大缺陷。定位工具确定感兴趣区域 (ROI)。一旦定义了 ROI，缺陷检测工具就能识别该区域内的缺陷。然后分类工具对缺陷进行分类。利用这些信息，生产经理不仅可以提高成品 LED 的产量，还可以利用分类信息来解决和修复各种生产问题，从而提高利润率。