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SIM 卡连接器检测

检测挑战性表面背景上的 SIM 卡连接器缺陷

SIM card connector cosmetic inspection fail example

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SIM 卡座是有六个或八个触点的浅盘,允许用户识别模块 (SIM) 卡轻松插入或取出,同时在使用过程中安全地固定该卡。此类卡被用于一系列的移动应用中。

SIM 卡座的表面可能有各种各样的缺陷,包括划痕、凹痕和变形。这些缺陷在通常为黑色或其他深色的表面上很难发现和识别。

传统的机器视觉很难发现这些缺陷,往往需要多台自动光学检测 (AOI) 机器依次进行检测,才能达到有限的检测能力。即使有多台 AOI 机器,也只能对有限数量的缺陷进行编程。

康耐视深度学习的缺陷探测非常适合检测 SIM 卡连接的异常情况。该缺陷探测工具使用一组无缺陷的 SIM 卡图像以及一组有缺陷的 SIM 卡图像进行训练。经过训练后,就能准确地检测出连接器上的各种缺陷,同时让不影响功能的纯粹外观标记通过。

传统的机器视觉只能检测有限的、出现在固定位置的缺陷类型,而深度学习缺陷探测工具可以检测广泛的不同缺陷,无论这些缺陷在被检测物品上的什么位置。由于缺陷探测工具的功能强大,有可能需要减少所需的视觉检测站数量,从而降低成本,同时实现高水平的准确缺陷探测。

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