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Trevista L mnt 뷰티 샷 03
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전자제품 Trevista 전자제품 PCB 검사
Trevista Dome

Trevista CI 돔

​​광택이 나는 표면과 무광택 표면에 대한 AI 기반 표면 검사

Trevista CI 돔은 고급 이미징 및 AI 툴을 사용하여 광택 및 무광택 표면을 검사합니다. 상세한 표면 맵을 생성하여 결함을 신속하게 찾아 더 많은 결함을 더 빠르게 포착하는 동시에 폐기율과 검사 시간을 줄입니다.

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주요 특징

폐기율 감소 및 정밀 검사 실현

SFS 기법 중 다수는 링 조명이나 여러 개의 바 조명을 사용합니다. Trevista CI 돔은 보다 효과적인 결함 감지를 위해 전체 각도 조명으로 이러한 기술을 개선합니다. 특허받은 알고리즘은 여러 각도의 이미지를 사용하여 상세한 합성 이미지를 생성하고 고품질, 반복성 및 강력한 검사를 보장합니다. 

VisionPro software and Trevista dome lighting integration

Cognex VisionPro 소프트웨어와의 원활한 통합

Cognex VisionPro의 강력한 기능을 사용하여 Trevista CI 돔으로 생성된 이미지를 평가합니다.

  • VisionPro에 내장된 Trevista Acquisition Wizard를 사용하면 카메라와 조명 컨트롤러 설정을 빠르게 구성할 수 있습니다.
  • SFS 이미지 컴퓨팅을 위한 내장된 Trevista 툴을 이용하여 고품질의 형상학적 이미지를 생성합니다.
  • 결함 감지 및 분류를 위한 통합 AI 기반 툴을 바탕으로 Trevista 합성 이미지를 사용해 결함 심각도를 평가합니다.
  • Cognex 비전 소프트웨어를 사용하여 머신 비전 검사 애플리케이션을 구축하십시오.

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제품 가이드를 다운로드하거나 제품을 비교하여 애플리케이션에 맞는 솔루션을 찾으십시오.

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Cognex product family

애플리케이션

​​반사 및 무광택 표면을 위한 전문 솔루션​ 

​​트레비스타 CI 돔은 강력한 쉐이딩 기술을 사용하여 반사 및 무광택 표면의 미묘한 결함을 감지합니다. 전기차(EV) 배터리 및 PCB 어셈블리와 같은 엄격한 허용 오차 범위에 이상적입니다.​

EV Trevista 배터리 검사

전기차(EV) 배터리 검사

배터리의 표면 결함을 식별하고 해당 결함을 중대 결함 또는 외관상 결함으로 분류합니다.

전자제품 Trevista 전자제품 PCB 검사

PCB 검사

인쇄 회로 기판(PCB)에 장착된 IC 칩의 방향이 올바른지 확인합니다.

제품 사양

Trevista CI 돔 사양

고객 추천

Trevista computational lighting dome over an EV battery pouch cell

"Trevista CI 돔은 더 나은 이미징 품질, 더 빠른 처리 속도를 제공하며 다른 툴과 원활하게 작동하여 체계적인 검사를 수행합니다."

Feng Yingjun

비주얼 비즈니스 부서장

성공 사례 읽기

지원

모든 비전 프로젝트를 손쉽게 계획, 활용 및 확장할 수 있는 동급 최고의 기술 및 맞춤형 가이드

당사의 기기는 매번 타의 추종을 불허하는 정밀도로 아주 미세한 세부 사항까지 포착합니다. 업계를 선도하는 지원은 셀프 서비스 리소스에서 글로벌 전문가 네트워크에 이르기까지 원하는 방식으로 작동합니다.

Trevista 지원 리소스
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VisionPro Deep Learning software interface

비전 소프트웨어

VisionPro
딥러닝

VisionPro Deep Learning은 까다로운 품질 관리 작업을 위해 설계된 AI 기반 PC용 이미지 분석 소프트웨어입니다. 예제 기반 학습을 활용하여 개발 시간을 단축하고, 복잡한 규칙이나 프로그래밍 없이도 변동이 있는 부품을 처리할 수 있습니다. VisionPro Deep Learning을 사용하면 제조업체는 품질을 향상시키고 수율을 높이는 강력한 검사 시스템을 구축할 수 있습니다. 

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